Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Sigma

Назначение: электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью

Основные технические характеристики:

• Полный диапазон увеличения без искажений: 12х - 1 000 000х
• Пространственное разрешение: 1,3 нм при 20 кВ, 1,5 нм при 15 кВ, 2,8 нм при 1 кВ
• Графическое разрешение: не хуже 3072х2304 пикселей
• Источник электронов: автоэмиссионный (термоэмиссионного типа)
• Диапазон ускоряющих напряжений: 100 В - 30 кВ
• Диапазон рабочего тока: 4 пА - 20 нА
• Рабочая камера: диаметр 365 мм, высота 270 мм
• Максимальный размер образцов для исследования: диаметр до 250 мм, длина до 145 мм
• Встроенные детекторы: In-lens, SE, AsB
• Аналитические приставки: EDS, EBSD
• Моторизованный 5-осевой предметный столик позиционирования образцов: X-125 мм,Y-125 мм,Z-50 мм, Наклон: 0 – 90°; Вращение: 360°
• Машина статических испытаний на растяжение/сжатие: Kammrath&Weiss
• Высокоскоростная видео камера: Photron FAST CAM SA3 120K-M2