Микроскопические и структурные исследования

Оборудование, предназначенное для наблюдения, регистрации и измерения (оценки) микроскопического строения объектов исследования, размеры и время зарождения (существования) которых находятся за пределами разрешающей способности глаза.

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 40 МАТ

Стереоскопический микроскоп Zeiss Stemi 2000

Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Sigma

Оптический профилометр Zygo NewView 7100

Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT

Рентгеновский дифрактометр Shimadzu Maxima XRD-7000S

Модернизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-2.0

Система анализа изображений uniDAC

Высокоскоростная цифровая видеокамера Photron FASTCAM SA3 120K-M2

Тепловизионная система FLIR SC7700М

Установка ионного травления Hitachi IM4000 Plus

Вакуумная напылительная установка магнетронного типа GSEM G20

Вакуумный универсальный пост ВУП-4

Растровый сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-6000 Neoscope II c блоком энергодисперсионного рентгеноспектрального (элементного) анализа

Газо-адсорбционный порозиметр Thermo Scientific Surfer Micropore

Лазерный анализатор размеров частиц Shimadzu SALD-2300

Прибор для измерения краевого угла KRUSS DSA25E

Металлографический стереоскопический микроскоп Altami MET 3Т

Разделы

445020, Самарская область, Тольятти, Белорусская ул.,14

+7 (8482) 44-94-24
44-94-44

Пн-пт: 8:15-17:00 (перерыв: 12:30-13:15)

office@tltsu.ru