Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта
+7 8482 54-64-51

Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000

Сканирующий конфокальный лазерный микроскоп Olympus LEXT OLS4000


Назначение:

Метрологическая система бесконтактного определения геометрических параметров, прецизионной топографии поверхности, измерения шероховатости и волнистости поверхности образца, основанном на анализе 2D и 3D сканов рельефа поверхности.

Технические характеристики:

  • Увеличение: 108х-17280х;
  • Оптический источник/детектор: белый LED/CCD-матрица (2 мегапикселя);
  • Лазерный источник/детектор: полупроводниковый лазер 450нм / PMT-детектор;
  • Разрешение по осям X и Y: не менее 120 нм;
  • Разрешение по оси Z: не менее 10 нм;
  • Шаг сканирования по оси Z: не менее 5 нм;
  • Точность: не хуже 0,2 + (L-длина сканирования, мкм)/100 мкм;
  • Объективы/рабочая дистанция: 5х/20мм, 10х/11мм, 20х/1мм, 50х и 100х/0,35мм;
  • Предметный столик: 100х100 мм моторизированный;
  • Рабочее расстояние: 100 мм.

Исследуемые материалы:

  • сплавы черных и цветных металлов, чугуны, пластмассы и другие, в том числе композиционные материалы и сварные соединения.
  • детали и узлы объектов различного назначения.

Возврат к списку